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中文技術(shù)規(guī)格書(shū)KEITHLEY2600B系列數(shù)字源表
2014-08-13
美國(guó)吉時(shí)利中文技術(shù)規(guī)格書(shū)KEITHLEY2600B系列數(shù)字源表美國(guó)吉時(shí)利KEIT...杭州威博WEIBO電參數(shù)測(cè)量?jī)x，耐壓絕緣電阻/泄漏電流測(cè)試儀
2014-07-14
中國(guó)電子行業(yè)儀器供應(yīng)商——堅(jiān)融實(shí)業(yè)JETYOOINDUSTRIAL&堅(jiān)友(上海)...杭州精測(cè)電子擬發(fā)布新產(chǎn)品線性大功率程控精密電源
2014-07-14
杭州精測(cè)電子擬發(fā)布新產(chǎn)品線性大功率程控精密電源【堅(jiān)融實(shí)業(yè)2014年7月報(bào)】杭州精...堅(jiān)融實(shí)業(yè)代理經(jīng)銷(xiāo)杭州精測(cè)電子直流電源，示波器
2014-07-14
杭州精測(cè)電子創(chuàng)立于2002年，是一家集研發(fā)、制造、營(yíng)銷(xiāo)為一體的科技型企業(yè)，主要產(chǎn)...萬(wàn)用表DMM源測(cè)SMU晶體管反向漏電、擊穿電壓、閾值電壓測(cè)試
2014-07-14
吉時(shí)利KEITHLEY2000萬(wàn)用表DMM，2600源測(cè)量單元SMU進(jìn)行晶體管，...基于KEITHLEY2600源表MOSFET場(chǎng)效應(yīng)管特性分析
2014-07-03
基于美國(guó)吉時(shí)利KEITHLEY2600系列數(shù)字源表的MOSFET場(chǎng)效應(yīng)晶體管特性...上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)碳納米管MOSFET電流-電壓特性IV曲線測(cè)試
2014-06-13
上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)碳納米管MOSFET電流-電壓特性IV曲線測(cè)試實(shí)驗(yàn)室中研究的許多納米...上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)實(shí)驗(yàn)納米級(jí)材料和器件開(kāi)發(fā)測(cè)試方案
2014-06-13
納米級(jí)材料和器件的制造通常始于化學(xué)、生物學(xué)或半導(dǎo)體器件/微電子實(shí)驗(yàn)室。納米級(jí)材料...上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)納米新材料研究測(cè)試方案
2014-06-13
納米技術(shù)日益成為科學(xué)技術(shù)向前發(fā)展趨勢(shì)的主導(dǎo)技術(shù)。納米級(jí)科學(xué)和工程將基礎(chǔ)研究和教育...溫度記錄儀的應(yīng)用
2014-06-11
溫度記錄儀的應(yīng)用1.在檢測(cè)、認(rèn)證行業(yè)中的運(yùn)用隨著中國(guó)進(jìn)入WTO,國(guó)家對(duì)商品的質(zhì)量...產(chǎn)品分類(lèi)
- 氫檢儀氣密性檢漏檢測(cè)儀
- 國(guó)產(chǎn)源表，替代keithley
- 穩(wěn)科Wayne Kerr/MICROTEST
- 體積電阻率/表面電阻測(cè)試
- 半導(dǎo)體I-V/C-V/I-R測(cè)試
- 介電常數(shù)/電導(dǎo)率測(cè)試方案
- 大眾VW80000/通用GMW3172/ISO16750標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試
- 電化學(xué)工作站/恒電位儀
- IBGT/MOSFET/SiC/GaN測(cè)試
- 電池/光伏/汽車(chē)充電樁測(cè)試
- DESCO/KLEINWACHTER靜電測(cè)試
- 體積電阻，電阻計(jì)，記錄儀
- 吉時(shí)利KEITHLEY/泰克Tektronix
- 安捷倫Agilent/是德KEYSIGHT
- 愛(ài)斯佩克ESPEC環(huán)境試驗(yàn)箱
- 普源RIGOL/致遠(yuǎn)ZLG/鼎陽(yáng)SIGLENT
- Chroma致茂/EEC華儀EXTECH
- 邏輯分析儀/總線協(xié)議測(cè)試
- EMI/EMC/EMS電磁干擾兼容
- 賽默飛Thermo X射線光譜儀
- 紅外熱像儀
- 哈希HACH/萬(wàn)通Metrohm
- 美國(guó)BK PRECISION
- ADCMT愛(ài)德萬(wàn)ADVANTEST
- 賽多利斯/奧豪斯OHAUS
- 艾卡IKA
- 愛(ài)色麗X-Rite/電色NIPPON
- 賓德BINDER試驗(yàn)箱
- 博勒飛Brookfield
- 物料輪廓顏色缺料視覺(jué)篩選
- 梅特勒METTLER
- 金相切割/鑲嵌/研磨拋光
- ITECH艾德克斯/NGI恩智
- COSMOS氣體/鐵粉濃度計(jì)
- 羅德與施瓦茨R&S（惠美HAMEG）
- 同惠/長(zhǎng)盛/安柏
- 標(biāo)準(zhǔn)源/計(jì)量校準(zhǔn)檢定設(shè)備
- 晶圓、芯片、屏幕Particle
- 日置HIOKI/國(guó)產(chǎn)替代
- 鎖相放大器
- 噪聲/振動(dòng)/聲學(xué)測(cè)試方案
- 日本KIKUSUI/IWATSU/HIOKI
- 電聲器件測(cè)試設(shè)備
- 長(zhǎng)盛耐壓絕緣電阻安規(guī)測(cè)試
- 永磁軟磁磁通量測(cè)試
- 汽車(chē)電子標(biāo)準(zhǔn)波形可編程電源
- 安捷倫Agilent色譜質(zhì)譜GC
- 默克Merck密理博Millipore
- SHIMAZU島津
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